Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy

Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations, Tom 66, Numer 1 (2016) s. 103-122
Ewelina Z. Frątczak, Paweł Uznański